■所属领域：电子信息技术

■项目来源：华南理工大学

■转让方式：技术转让、技术许可（授权）

■项目简介：本发明公开了一种适用于OTA测试的EVM测量方法，为天线前端一体化待测仪器或多通道待测仪器提供一种基于OTA测试条件下的EVM测量方法。与应用在传导法条件下的EVM测量方法相比，本发明适用在OTA测量条件下，能同时对多个收发通道的待测仪器进行测试，提高了EVM测试速度，测试条件更接近于待测仪器实际工作条件。